上海市高分辨电子显微学重点实验室
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Cross-Section Polisher IB-19520CCP
发布者:马延航
发布时间:2022-04-13
浏览次数:
306
联系人
: 熊麟
主要功能及特色
:
用于扫描电镜、电子探针、俄歇电镜、
EBSD
分析等应用领域样品制备,要求样品厚度不高于
2mm